- ISO 14606:2000
- изд.1 H TC 201/SC 4Химический анализ поверхности. Профилирование глубины напыления. Оптимизация с помощью послойных систем в качестве эталонных материалов—————раздел 71.040.40
Стандарты Международной организации по стандартизации (ИСО). Каталог (в 2-х частях). — М.: ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ». 2008.